臺(tái)式掃描電鏡的原理和工作模式解析
更新時(shí)間：2024-10-11 點(diǎn)擊次數(shù)：1049
臺(tái)式掃描電鏡是一種小型化的掃描電鏡設(shè)備，它在生物、材料、物理等領(lǐng)域具有廣泛的應(yīng)用。它的工作原理和工作模式與傳統(tǒng)的掃描電鏡基本相同，但其體積更小、操作更簡(jiǎn)便、價(jià)格更低廉，使得更多的實(shí)驗(yàn)室和個(gè)人能夠使用這種顯微鏡技術(shù)。
一、原理
基于電子束與樣品之間的相互作用。其核心部分是一個(gè)可以發(fā)射并聚焦電子束的電子槍。電子槍產(chǎn)生的電子束經(jīng)過(guò)加速、聚焦后，照射到樣品表面。電子束與樣品表面的原子相互作用，會(huì)產(chǎn)生二次電子、背散射電子、吸收電子等多種信號(hào)。這些信號(hào)被相應(yīng)的探測(cè)器接收，并轉(zhuǎn)換為電信號(hào)，再經(jīng)過(guò)放大、處理后，轉(zhuǎn)換為圖像信號(hào)，在顯示器上呈現(xiàn)出樣品表面的微觀(guān)結(jié)構(gòu)。
二、臺(tái)式掃描電鏡的工作模式主要有以下幾種：
1.掃描模式：在掃描模式下，電子束在樣品表面進(jìn)行逐行掃描，探測(cè)器收集到的信號(hào)會(huì)按照掃描順序依次顯示在顯示器上，形成一幅二維的表面形貌圖像。這是掃描電鏡常用的觀(guān)察模式。
2.背散射電子像模式：在背散射電子像模式下，探測(cè)器主要收集從樣品表面反射回來(lái)的背散射電子。由于背散射電子的數(shù)量與樣品的原子序數(shù)成正比，因此，這種模式可以用來(lái)分析樣品的成分和結(jié)構(gòu)。
3.二次電子像模式：在二次電子像模式下，探測(cè)器主要收集由電子束激發(fā)產(chǎn)生的二次電子。二次電子的數(shù)量與樣品表面的傾角和電子束入射角度有關(guān)，因此，這種模式可以用來(lái)觀(guān)察樣品表面的微觀(guān)結(jié)構(gòu)和立體特征。
4.高分辨率模式：在高分辨率模式下，電子束的焦距縮短，從而提高圖像的空間分辨率。這種模式適用于觀(guān)察納米尺度的微細(xì)結(jié)構(gòu)。
5.能譜分析模式：在能譜分析模式下，探測(cè)器收集樣品表面發(fā)射的X射線(xiàn)，通過(guò)分析X射線(xiàn)的能量分布，可以對(duì)樣品的元素組成進(jìn)行定性和定量分析。
臺(tái)式掃描電鏡以其小巧、便捷的特點(diǎn)，在科學(xué)研究和工業(yè)生產(chǎn)中發(fā)揮著越來(lái)越重要的作用。
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