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工業(yè)CT檢測(cè)原理與技術(shù)應(yīng)用深度解析

更新時(shí)間:2024-05-28      點(diǎn)擊次數(shù):517
  一、工業(yè)CT檢測(cè)原理
 
  工業(yè)CT檢測(cè),即工業(yè)計(jì)算機(jī)斷層掃描成像技術(shù),其基本原理是:當(dāng)經(jīng)過(guò)準(zhǔn)直且能量為I0的射線束穿過(guò)被檢物時(shí),由于各個(gè)透射方向上各體積元的衰減系數(shù)不同,探測(cè)器接收到的透射能量I也會(huì)有所不同。探測(cè)器會(huì)對(duì)X射線吸收的數(shù)據(jù)進(jìn)行實(shí)時(shí)采集,這些數(shù)據(jù)隨后被送入到一個(gè)計(jì)算機(jī)系統(tǒng)進(jìn)行數(shù)據(jù)處理和成像。通過(guò)一定的圖像重建算法,即可獲得被檢工件截面一薄層無(wú)影像重疊的斷層掃描圖像。重復(fù)上述過(guò)程,可以獲得多個(gè)斷層圖像,進(jìn)而重建出三維圖像。
 
  具體來(lái)說(shuō),當(dāng)單能射線束穿過(guò)非均勻物質(zhì)后,其衰減遵從比爾定律。一幅由M×N個(gè)像素組成的圖像,必須有M×N個(gè)獨(dú)立的方程才能解出衰減系數(shù)矩陣內(nèi)每一點(diǎn)的μ值。當(dāng)射線從各個(gè)方向透射被檢物體時(shí),通過(guò)掃描探測(cè)器可得到MXN個(gè)射線計(jì)數(shù)和值,從而可以重建出MXN個(gè)μ值組成的二維CT灰度圖像。
 
  二、工業(yè)CT檢測(cè)技術(shù)應(yīng)用
 
  內(nèi)部缺陷檢測(cè):通過(guò)對(duì)工件的CT掃描斷層圖或三維圖像進(jìn)行分析,可以快速、準(zhǔn)確、直觀地檢測(cè)到產(chǎn)品的內(nèi)部缺陷,如裂紋、氣孔、疏松、夾雜等。檢測(cè)精度可達(dá)1um,有助于改善鑄造模具結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)、工藝參數(shù)以及原料成分等。
 
  孔隙率分析:依據(jù)相關(guān)測(cè)試要求,對(duì)鑄件內(nèi)部截面孔隙率進(jìn)行分析,評(píng)估內(nèi)部孔隙對(duì)零件的危害程度是否滿(mǎn)足要求。這種方法可以替代常規(guī)的金相測(cè)試法,滿(mǎn)足產(chǎn)品設(shè)計(jì)開(kāi)發(fā)、模具成品率檢驗(yàn)以及長(zhǎng)期質(zhì)量控制的需求。
 
  裝配分析:使用工業(yè)CT可以直觀了解產(chǎn)品的二維與三維局部整體、透視或截面分析圖,高效精確地呈現(xiàn)裝配件內(nèi)部組成及其裝配關(guān)系,便于分析各部件內(nèi)部結(jié)構(gòu)以及裝配間隙公差等。
 
  跨行業(yè)應(yīng)用:工業(yè)CT檢測(cè)技術(shù)已廣泛應(yīng)用于航空航天、汽車(chē)制造、醫(yī)療設(shè)備、考古學(xué)等多個(gè)領(lǐng)域,為不同行業(yè)提供高效的無(wú)損檢測(cè)解決方案。
 
  綜上所述,工業(yè)CT檢測(cè)技術(shù)以其原理和廣泛的應(yīng)用領(lǐng)域,成為現(xiàn)代工業(yè)檢測(cè)領(lǐng)域的重要工具之一。
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