賽可（SEC）X-RAY檢測(cè)設(shè)備SF160RT Series

更新時(shí)間：2024-10-11

產(chǎn)品型號(hào)：X-eye SF160RT Series

簡(jiǎn)要描述：賽可（SEC）X-RAY檢測(cè)設(shè)備SF160RT Series：半導(dǎo)體，電子產(chǎn)品，封裝等產(chǎn)品精密分析用非破壞性檢測(cè)設(shè)備Detector X-tlt與Y-tilt Axis增加2.5D view的自由度。

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    賽可（SEC）X-RAY檢測(cè)設(shè)備SF160RTSeries簡(jiǎn)介：

    1、半導(dǎo)體，電子產(chǎn)品，封裝等產(chǎn)品精密分析用非破壞性檢測(cè)設(shè)備

    2、DetectorX-tlt與Y-tiltAxis增加2.5Dview的自由度

    3、Multi-layerPCB佳的檢測(cè)方案

    4、可安裝Oblique/Cone-beamCT

    5、賽可（SEC）X-RAY檢測(cè)設(shè)備SF160RTSeries選配AXIS/W功能可進(jìn)行量產(chǎn)檢測(cè)

    1.賽可（SEC）X-RAY檢測(cè)設(shè)備SF160ERSeries：

    ·精密分析及3Dview佳的檢測(cè)設(shè)備

    ·半導(dǎo)體，電子產(chǎn)品，封裝等產(chǎn)品精密分析用非破壞性檢測(cè)設(shè)備

    ·可搭載Option自動(dòng)檢測(cè)S/W，通過手動(dòng)裝料后的自動(dòng)檢測(cè)，可實(shí)現(xiàn)產(chǎn)品全檢

    ·通過DualCT(ObliqueCT,Cone-beamCT)方式的3D檢測(cè)，提供高分辨率

    ·高精度的分析檢測(cè)環(huán)境

    2.賽可（SEC）X-RAY檢測(cè)設(shè)備SF160F/NSeries：

    ·精密分析及2.5Dview佳檢測(cè)設(shè)備Detectorrotation,簡(jiǎn)便·快速獲取2.5Dviev最大可實(shí)現(xiàn)900x900mm的Tablesize,可檢測(cè)大型PCB和LED

    ·選配AXIS/W功能可進(jìn)行量產(chǎn)檢測(cè)

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